期末報告題目：奈米粉體製造與量測技術

▉期末報告題目：奈米粉體製造與量測技術

★摘要
粉體的製造與應用從微米尺寸逐漸擴展到奈米等級，製程技術將直接影響微細粉體的發展腳步。期末報告討論「奈米材料上游製造業者」製作奈米等級的粉體的製程技術；從機械研磨技術到化學法製備微細粉體的方法。除製程外，也關注粉體尺寸、品質與形貌等，故「量測技術」將扮演關鍵角色之ㄧ，從特徵量測法到直接觀測法的介紹。

★直接觀察法包括：
(1)原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)、
(2)掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)、
(3)穿透式電子顯微鏡(Tunneling Electron Microscope, TEM)。

★特性分析法包括：
(1)動態光散射儀(Dynamic Light Scattering, DLS)、
(2)電遷移率分析法(Differential Mobility Analysis, DMA)、
(3)電重力氣膠平衡法(Electro-gravitational Aerosol Balance, EAB)等量測技術。

★參考文獻：
(1)蔡春進老師，PD ISO/TR 27628：2007
(2) A Thesis by STANISLAV Y. GLAGOLENKO, SINGLE-ULTRAFINE-PARTICLE MASS SPECTROMETER DEVELOPMENT AND APPLICATION, August 2004.
(3)M. Katherine Nanzetta-Converse, Britt A. Holmén and Alberto Ayala, SIZE-SELECTIVE MEASUREMENTS OF ULTRAFINE PARTICLE EMISSIONS FROM A CNG AND A TRAP-EQUIPPED DIESEL BUS DURING TRANSIENT OPERATION, April 4 - 6, 2005 San Diego, California.
(4)阮國棟。奈米技術於環保領域應用之科技發展方案。行政院環境保護署，96年10月8日
(5)李永旺，趙長遂，吳新，魯端峰，韓松。均勻磁場中燃煤可吸入顆粒物聚並實驗研究。中國電機工程學報，第27卷第11期，2007年4月。
(6)羅聖全。研發奈米科技的基本工具之一電子顯微鏡介紹– TEM。小奈米大世界。清華大學博士。
(7)奈米材料之量測技術，http://nano.mse.ttu.edu.tw/html/doc/Class01_Intro/4.pdf。
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